產(chǎn)品展示
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品展示檢測(cè)儀器日本And艾安德日本And艾安德非接觸式靜電測(cè)量?jī)x AD-1684A
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-07-05
廠商性質(zhì)：代理商
訪 問(wèn) 量 ：219
028-68749778
| 品牌 | AND/日本愛(ài)安德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本And艾安德非接觸式靜電測(cè)量?jī)x AD-1684A
本設(shè)備突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量局限，采用三重平面感應(yīng)陣列技術(shù)，實(shí)現(xiàn)0.1-50mm非接觸檢測(cè)距離可調(diào)。關(guān)鍵創(chuàng)新包括：
智能距離補(bǔ)償系統(tǒng)：通過(guò)激光輔助定位自動(dòng)校正測(cè)量距離誤差（±0.5mm精度）
雙模式檢測(cè)：
靜電場(chǎng)模式：±0.01kV~±20kV量程（分辨率0.001kV）
離子平衡模式：±200V范圍（符合ANSI/ESD S3.1標(biāo)準(zhǔn)）
工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)接口：支持Modbus RTU協(xié)議，可接入MES系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)追溯
經(jīng)日本電子計(jì)測(cè)協(xié)會(huì)（JEMIMA）認(rèn)證：
響應(yīng)時(shí)間：0.3秒（90%量程）
溫度漂移：±0.005%/℃（5-35℃環(huán)境）
長(zhǎng)期穩(wěn)定性：±1%/年（標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)周期）
抗干擾能力：在30kV/m電磁場(chǎng)中誤差<3%
半導(dǎo)體制造
在12英寸晶圓檢測(cè)中：
識(shí)別0.5μm線路的靜電分布梯度
與接觸式測(cè)量?jī)x對(duì)比誤差<±2%
醫(yī)療包裝
完成FDA 21 CFR Part 11合規(guī)驗(yàn)證：
西林瓶表面電位映射（100點(diǎn)/分鐘）
數(shù)據(jù)完整性通過(guò)ALCOA+原則審計(jì)
科研領(lǐng)域
與AND GF-3000天平聯(lián)用：
實(shí)現(xiàn)μg級(jí)樣品的靜電-質(zhì)量耦合分析
發(fā)表3篇SCI收錄論文
提供NIST可追溯校準(zhǔn)證書(shū)
可選配自動(dòng)掃描支架（行程精度±0.1mm）
中國(guó)區(qū)技術(shù)中心配備Class 1000級(jí)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室
掃碼加微信
上一個(gè)：
返回列表
