日本探頭 jp-probe 柔性單晶盒式垂直探頭

日本探頭 jp-probe 柔性單晶盒式垂直探頭

日本探頭株式會社（Japan Probe Co., Ltd）推出的JP-Probe柔性單晶盒式垂直探頭，是專為復雜曲面及精密檢測場景設(shè)計的創(chuàng)新型超聲檢測工具。該探頭融合了柔性基底材料與單晶壓電技術(shù)，突破了傳統(tǒng)剛性探頭在曲面檢測中的局限性，為航空航天、汽車制造、電子封裝等領(lǐng)域提供了高精度、高適應(yīng)性的無損檢測解決方案。

核心技術(shù)優(yōu)勢?

柔性基底適配曲面?

探頭采用柔性聚合物基底，可彎曲貼合曲率半徑≥5mm的工件表面，如航空發(fā)動機葉片、汽車曲軸等復雜結(jié)構(gòu)。其彎曲角度范圍達±30°，確保超聲波垂直入射，避免因角度偏差導致的檢測盲區(qū)。

單晶壓電高靈敏度?

內(nèi)置鋯鈦酸鉛（PZT）單晶壓電元件，相比傳統(tǒng)多晶探頭，能量轉(zhuǎn)換效率提升40%，信噪比（SNR）達95dB以上?？删珳什蹲?.01mm級微裂紋、氣孔等缺陷，尤其適用于薄壁件（如0.2mm金屬箔）及復合材料檢測。

盒式結(jié)構(gòu)強化穩(wěn)定性?

探頭封裝于耐磨盒式外殼中，內(nèi)部填充硅膠減震層，有效隔離機械振動與電磁干擾。工作溫度范圍覆蓋-40℃至200℃，滿足環(huán)境下的在線檢測需求。

性能參數(shù)與功能?

頻率范圍?：1MHz至10MHz可調(diào)，高頻段（如5MHz）用于薄層材料檢測，低頻段（3MHz）增強粗晶材料穿透力。

動態(tài)功率調(diào)節(jié)?：支持10V至600V電壓輸出，實現(xiàn)從微弱信號捕捉到高強度穿透的無縫切換，檢測深度達1.5m。

智能波束控制?：通過JPR-600C發(fā)射接收器，可編程1至300波序列，適配孔隙率分析、厚度測量等復雜任務(wù)。

云端數(shù)據(jù)管理?：檢測數(shù)據(jù)自動同步至云端，結(jié)合AI算法實現(xiàn)缺陷趨勢預(yù)測與歷史數(shù)據(jù)追溯。

典型應(yīng)用場景?

航空航天?：檢測渦輪葉片涂層脫落、機翼蒙皮疲勞裂紋。

汽車制造?：掃查曲軸、連桿等鍛件的內(nèi)部缺陷，預(yù)防斷裂風險。

電子封裝?：評估PCB板焊點虛焊、陶瓷電容分層等微觀缺陷。

新能源領(lǐng)域?：監(jiān)測鋰電池極片褶皺、隔膜穿孔等質(zhì)量問題。

市場認可與榮譽?

該探頭已通過JAXA（日本宇宙航空研究開發(fā)機構(gòu)）認證，用于碳纖維復合材料（CFRP）的航天級檢測。此外，日本探頭株式會社憑借此技術(shù)獲2018年日本音響學會“技術(shù)開發(fā)獎"及2019年“300個振興中小企業(yè)"獎項，彰顯其行業(yè)地位。

JP-Probe柔性單晶盒式垂直探頭以“曲面適配+單晶精度"為核心，重新定義了復雜結(jié)構(gòu)無損檢測的標準，為工業(yè)4.0時代的智能化質(zhì)檢提供了關(guān)鍵工具。