產(chǎn)品分類
日本OTSUKA大塚西南代理膜測量系統(tǒng)nanoSAQ 多檢測體納米粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA nanoSAQLA和自動采樣器AS50組合使用時,最多可以連續(xù)自動測量50個樣品。每個樣品的測量時間約為1分鐘,快速高效,而且在測量過程中可以添加樣品,非常適合操作簡便和縮短操作時間。細胞可以使用適用于有機溶劑的玻璃一次性細胞。
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚測量系統(tǒng)GS-300 帶有模式匹配功能、X-Y位置精度在2um以下的系統(tǒng)。
日本OTSUKA大塚西南代理線掃描膜厚儀晶圓用半導體的研究開發(fā)以及生產(chǎn)現(xiàn)場中,能夠在晶圓基板上的薄膜進行全表面測量的裝置。 通過結(jié)合獨自的分光干涉法和新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù),可以高速測量12英寸晶圓的面內(nèi)分布。
日本OTSUKA大塚西南代理線掃描膜厚計在線型是一款能夠在在線生產(chǎn)現(xiàn)場對薄膜厚度進行全幅、全長度測量的裝置。 通過結(jié)合我們獨自的分光干涉法和新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術(shù),能夠在最短0.001秒的測量間隔內(nèi)對500mm寬度(單臺使用時)的薄膜厚度進行測量。
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚測定用MCPD6800是依托其標志性“瞬間多通道測光”技術(shù)打造的高性能光譜干涉式膜厚檢測系統(tǒng),專為半導體、顯示面板、功能薄膜等行業(yè)的高精度膜厚質(zhì)控場景設計,是兼顧實驗室研發(fā)與工業(yè)在線監(jiān)測的通用型膜厚檢測產(chǎn)品。
日本OTSUKA大塚西南代理膜厚測定用MCPD9800是依托其標志性“瞬間多通道測光”技術(shù)打造的高性能光譜干涉式膜厚檢測系統(tǒng),專為半導體、顯示面板、功能薄膜等行業(yè)的高精度膜厚質(zhì)控場景設計,是兼顧實驗室研發(fā)與工業(yè)在線監(jiān)測的通用型膜厚檢測產(chǎn)品。
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